Formations

Caractérisation chimique et physico-chimique des surfaces et interfaces dans les matériaux – Session 2 – 2019

8 octobre 2019 – 10 octobre 2019


La formation s’adresse aux professionnels, ingénieurs et techniciens de l’industrie, confrontés dans leur métier à tous types de problématiques liées aux surfaces et interfaces dans les matériaux : traitements de surface, maîtrise de la propreté de surface, matériaux à propriétés de surface contrôlées …
(Prérequis : formation scientifique orientée matériaux).

L’objectif de la formation est (1) de sensibiliser aux différents aspects de l’analyse, aux informations analytiques accessibles et à leur complémentarité et (2) de mieux appréhender leur utilisation pour la résolution de problèmes concrets.
La formation comporte des exposés théoriques reprenant les principes physiques des principales techniques proposées par TESCAN ANALYTICS : AFM, XPS, ToF SIMS, TEM, SEM et préparation d’échantillons par FIB et microtomie. Cette partie théorique est accompagnée d’exemples d’applications à des problèmes industriels, et de démonstrations sur les équipements pour illustrer le déroulement des analyses sur des cas concrets : de la préparation des échantillons à l’interprétation des résultats analytiques (possibilité d’analyser vos échantillons, nous contacter en cas d’intérêt).

Les équipements utilisés pour les démonstrations sont des plus récents :
– AFM – BRUKER – ICON
– Dual Beam FIB/SEM – TESCAN
– XPS – KRATOS – NOVA
– ToF SIMS – ION TOF 5 + source clusters argon
A l’issue de la formation, les stagiaires seront aptes à comprendre l’apport de chacune des techniques d’analyse et à choisir, sur base de leur complémentarité, les techniques les mieux adaptées pour l’étude de leurs échantillons et la résolution de leurs problèmes de surface.

Les formateurs

La formation est assurée par l’équipe de TESCAN ANALYTICS constituée d’ingénieurs et de docteurs en chimie et en sciences des matériaux, expérimentés en analyse de surface et chargés des études caractérisation de surfaces qui leurs sont confiées.

Programme de la formation

INTRODUCTION A LA PHYSICO-CHIMIE DES SURFACES (1 h)

  • Dimensions, réactivité, sensibilité
  • Performances analytiques des techniques
  • Comparaison des techniques d’analyse de surfaces

TECHNIQUES D’ANALYSE DE SURFACES

XPS (X-Ray Photoelectron Spectroscopy) – 5 h

Cours :

  • Effet photoélectrique
  • Formalisme d’analyse quantitative
  • Déplacement chimique
  • Instrumentation
  • Applications analytiques

Démonstrations pratiques :

  • Analyse quantitative élémentaire et analyse des formes chimiques

ToF-SIMS (Secondary Ion Mass Spectrometry) – 5 h

Cours :

  • Emission ionique secondaire : pulvérisation et ionisation
  • Régime dynamique et statique
  • Formalisme quantitatif
  • Instrumentation
  • Profils en profondeur et imagerie
  • Applications analytiques

Démonstrations pratiques :

  • Analyse moléculaire, Imagerie, Profils

AFM (Atomic Force Microscopy) – 5 h

Cours :

  • Forces d’interaction pointe-surface
  • Instrumentation
  • Modes de fonctionnement : Contact, Tapping (contact intermittent), Peak Force, CAFM, KPFM
  • Artefacts
  • Applications

Démonstrations pratiques :

  • Analyse dans les différents modes
  • Interprétation des images
  • Visualisation d’artéfacts

Microscopies électroniques & Préparation d’échantillons – 5 h

Cours :

  • Préparation d’échantillons par FIB et ultramicrotomie
  • Interactions électron-matière
  • SEM (Scanning Electron Microscopy) et analyses X
  • TEM (Transmission Electron Microscopy), analyses X et par perte d’énergie des électrons
  • Applications

Démonstrations pratiques :

  • SEM : observation morphologique
  • Préparation de coupes par FIB
  • Analyse chimique par EDX et interprétation des spectres

Contact

Tel : +33 (0)4 42 53 83 10 /
Mail : contact-analytics@tescan.com


Détails et inscriptions

Cette formation est dispensée par

Lieu de la formation

TESCAN ANALYTICS 3ème RUE, n° 131 Actipôle Saint Charles 13710 FUVEAU

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